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XQZ光学测角比较仪

XQZ光学测角比较仪

日期:2019-02-07 人气:
XQZ光学测角比较仪

用途和特点:
  可广泛适用于光学及机械制造业中,计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量;导轨的直线度及平板的平面度校准测量;两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。
  该系列仪器操作简便、直观,测量稳定可靠,借助辅助设备用途广泛。

技术参数:

型号 
Model

示值 
Graduation

分度范围 
Scale Range

目镜放大倍率 
Magnification

示值不确定度 
Uncertainty

工作距离范围 
working range

外形 
Dimension(D×W×H)

XQ60-ZⅠ

1′

V60′,H40′

10×/15×

±6″

0~1.4m

200×250×400

XQ15-ZⅡ

15″

V50′,H38′

20×

±3″

0~1.4m

200×250×400

选配件:
  CCD监控系统(适用ZI型)


XQZ光学测角比较仪
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